RENESAS
半導体や電子部品の試験規格
    電子部品や半導体に関連する公的な試験規格になります。
        *規格類の最新化情報については、閲覧者ご自身にて調査確認いただきますようお願いいたします。
規格名称 規格概要
国際電気標準会議(IEC) 国際電気標準会議(International Electrotechnical Commission)は、電気工学、電子工学、および関連した技術を扱う国際的な標準化団体である。その標準の一部は国際標準化機構(ISO)と共同で開発されている。
日本工業規格(JIS)
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日本工業規格(Japanese Industrial Standards)は、工業標準化法に基づき、日本工業標準調査会の答申を受けて、主務大臣が制定する工業標準であり、日本の国家標準の一つである。 なお、制定にあたって国際標準化機構(ISO)や国際電気標準会議(IEC)で制定済みの国際規格がある場合は、国際規格と整合するように調整されている。
電子情報技術産業協会(JEITA)
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社団法人電子情報技術産業協会(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)は、エレクトロニクス産業やIT産業の振興と技術開発の促進などを目的として 2000年に日本電子工業振興協会(JEIDA)と日本電子機械工業会(EIAJ)が統合して誕生した業界団体である。
JEDEC半導体技術協会(JEDEC) JEDEC半導体技術協会は半導体技術の標準化を行うための米国電子工業会(Electronic Industries Alliance : EIA)の機関で、半導体部品の標準化を推進する業界団体である。
MIL規格(MIL) MIL規格(Military Standard)とは、アメリカ国防総省が制定した、アメリカ軍が必要とする様々な物資の調達規格であり、 その内容はミサイル部品からコーヒーメーカーまで多岐に渡り、国防総省が調達する品目の規格・仕様が規定されている。
自動車向け電子部品評議会(AEC) 自動車向け電子部品評議会(Automotive Electronics Council : AEC)とは、車載用電子部品の信頼性および認定基準の規格化のための業界団体であり、 AEC-Q100:集積回路(IC)、AEC-Q101:個別半導体、AEC-Q200:受動部品の規格構成となっている。