RENESAS
 

信頼性試験
高温保存試験/低温保存試験
耐湿性試験(高温高湿試験)
温度サイクル試験/熱衝撃試験
プレッシャークッカーテスト
温湿度サイクル試験
塩水噴霧試験
振動試験/衝撃試験
静電気破壊試験(ESD試験)
ラッチアップ試験
通電試験
その他試験
特性検査
選別検査・スクリーニング
電気的特性の測定(テスト)
光学的特性の測定
解析・分析
構造解析・故障解析
分析
故障・モード別評価
ウィスカ評価試験
はんだ接合部の実装評価試験
グリーン調達材料評価試験
宇宙用半導体デバイス評価試験
評価用装置・部材
評価用装置作成
評価用部材作成
はんだボール再搭載(リボール)
目的
半導体や電子部品が基板に実装された状態でのはんだ接合部の耐性を評価します。
方法
温度サイクル試験により評価します。

    【目的】  材料間の線膨張係数差による応力に対する接合部の耐性を評価します。
    【試験条件例】  -40℃/125℃,2000サイクル
    【参考規格例】  JEITA
    【対応範囲】  温度サイクル槽,抵抗測定,引き剥がし強度試験,基板曲げ試験,横押し試験,断面観察,その他

《接合部評価判定方法事例》
引き剥がし強度試験
横押し試験
基板曲げ試験
接合部断面観察
費用・期間
【鉛フリーはんだ(Pbフリー)にて実装された接合部の評価を実施する場合】
    試験条件:-40℃/125℃,500サイクル(500hr相当),数量10点,断面観察よる判定
    概算費用:40万円〜
    試験工期:25日

    なお、上記費用・工期は参考となりますので、個々のご依頼内容によって変わります。
    詳細は営業担当者までお問い合わせください。

        ・パッケージ外形
        ・試験条件
        ・試験数量
    これらの情報を事前にいただけますと、より詳細なお見積が可能となります。

試験をご依頼いただける場合は  試験依頼書  に必用事項をご記入いただき、ご捺印の上、営業担当者まで
お申し付けください。