半導体デバイスの選別検査・スクリーニン

【環境試験】
	高温保存試験／低温保存試験
	耐湿性試験(高温高湿試験)
	温度サイクル試験／熱衝撃試験
	プレッシャークッカーテスト
	温湿度サイクル試験
	その他環境試験
【強度試験】
	振動試験／衝撃試験
	静電気破壊試験(ESD試験)
	ラッチアップ試験
	その他強度試験
【動作試験】
	通電試験

	選別検査・スクリーニング
	電気的特性の測定（テスト）
	光学的特性の測定

	構造解析・故障解析
	分析

	ウィスカ評価試験
	はんだ接合部の実装評価試験
	グリーン調達材料評価試験

	パワー系半導体素子信頼性試験
	半導体素子静電破壊試験
	LED信頼性試験
	はんだボールの再搭載（リボール）
	酸化膜破壊メカニズム研究

半導体デバイスの選別検査・スクリーニング

電子部品・半導体選別検査とは

・各種半導体デバイスから良品／不良品を選別します。
・良品の中からご指定の特性品を選別いたします。

このようなときに

・流通在庫の能力（状態）が心配だ。
・メーカー不具合等で、在庫品を使いたい。
・独自の基準での特性値を求めたい。

このように
お手伝いします

・各種テスターもしくは、いくつかの測定器を組み合わせて、電気的特性を測定します。
・温度サイクル試験／熱衝撃試験／低温試験／高温試験などの各種エージングを実施、その前後での低温／高温環境での電気的特性の測定を実施します。
・X線検査装置やマイクロスコープを使用して、外観検査を行います。
・在庫品を分割して再梱包やテーピングします。（防湿梱包も可能です）

選別項目紹介