株式会社ルネサスクオリティエンジニアリング 電子部品・半導体受託業務のご案内
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信頼性試験と各種解析
半導体デバイスの寿命試験
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半導体デバイスの選別検査・スクリーニング
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サービス案内 > 信頼性試験と各種解析 > 半導体デバイスの選別検査・スクリーニング 半導体デバイスの選別検査・スクリーニング
半導体デバイスの選別検査・スクリーニング
 電子部品・半導体選別検査とは

・各種半導体デバイスから良品/不良品を選別します。
・良品の中からご指定の特性品を選別いたします。

このようなときに ・流通在庫の能力(状態)が心配だ。
・メーカー不具合等で、在庫品を使いたい。
・独自の基準での特性値を求めたい。
このように
お手伝いします
・各種テスターもしくは、いくつかの測定器を組み合わせて、電気的特性を測定します。
・温度サイクル試験/熱衝撃試験/低温試験/高温試験などの各種エージングを実施、その前後での低温/高温環境での電気的特性の測定を実施します。
・X線検査装置やマイクロスコープを使用して、外観検査を行います。
・在庫品を分割して再梱包やテーピングします。(防湿梱包も可能です)
 選別項目紹介
電気的特性試験室
エージング
・温度サイクル試験  ・熱衝撃試験  ・低温試験
・高温試験  ・その他
電気的特性試験室
電気的特性検査
・低温・高温・常温測定
・テストプログラム作成   ・測定用治具作製
   
電気的特性試験室
梱包/出荷

・エンボステーピング  ・ステック詰め
・トレイ詰め  ご希望で防湿梱包も可能

電気的特性試験室
外観検査

・リード状態  ・マーク状態  ・モールド状態
ご希望でベーキング処理など

 試験項目紹介
■電気的特性試験
 電気的特性
 絶縁耐圧
 耐圧(DC特性)

■X線検査
ボンディング位置、ボンディング
ワイヤーループ形状

■外観検査
寸法精度
外観(リード平坦度)
 試験装置
各種寿命試験装置+電気的特性・光学的特性の測定装置+外観検査装置+テーピング機
     
 
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