株式会社ルネサスクオリティエンジニアリング 電子部品・半導体受託業務のご案内
RENESAS
 
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信頼性試験
【環境試験】
高温保存試験/低温保存試験
耐湿性試験(高温高湿試験)
温度サイクル試験/熱衝撃試験
プレッシャークッカーテスト
温湿度サイクル試験
その他環境試験
【強度試験】
振動試験/衝撃試験
静電気破壊試験(ESD試験)
ラッチアップ試験
その他強度試験
【動作試験】
通電試験
特性検査
選別検査・スクリーニング
電気的特性の測定(テスト)
光学的特性の測定
解析・分析
構造解析・故障解析
分析
故障モード別評価
ウィスカ評価試験
はんだ接合部の実装評価試験
グリーン調達材料評価試験
技術資料一覧
パワー系半導体素子信頼性試験
半導体素子静電破壊試験
LED信頼性試験
はんだボールの再搭載(リボール)
酸化膜破壊メカニズム研究
 
電気的特性の測定(テスト)
 電子部品・半導体機能試験とは
各種半導体テスタのテストプログラム作成・テストボード作製からテストまで実施します。
電気的特性試験室
電気的特性試験室
 試験項目紹介
・メモリIC :SDRAM、SRAM、EPROM、EEPROM、フラッシュ、他
・ロジックIC :マイコン、汎用ロジックIC、他
・リニアIC :オペアンプ、レギュレータ、A/D・D/Aコンバータ、フォトカプラ、他
・トランジスタ、ダイオード
 試験装置
・メモリテスタ
・マイコンテスタ
・リニアICテスタ
・トランジスタテスタ
 LSIテストプログラム開発
お客様のニーズに合った、LSIテストプログラムを短TATで開発いたします。
■開発実績
・メモリデバイス(フラッシュ、SRAM、SDRAM、DPRAM)
・マイコンデバイス
・汎用ロジックデバイス
・A/D,D/Aコンバータ

弊社のLSIテスターを使用したデバイス試験もサポートいたします。

 ソフトウェア開発
LSIテスター関連のソフトウェアを開発してまいりました。
■開発実績
・テストプログラム開発支援GUIツール
・テストプログラムのコンパイラ
・テストプログラムのコンバータ
・リアルタイムH/W制御システム
・H/Wの校正/診断プログラム

今後はLSIテスター関連以外の幅広い分野でのソフトウェア開発も 推進してまいります。

お客様に信頼いただけるエンジニア育成のために、情報処理の資格取得を 推進しております。
【保有資格】
・アプリケーションエンジニア
・ソフトウェア開発技術者
・第二種情報処理技術者
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