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電気的特性の測定（テスト） |
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電子部品・半導体機能試験とは |
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| 各種半導体テスタのテストプログラム作成・テストボード作製からテストまで実施します。 |
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| 電気的特性試験室 |
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試験項目紹介 |
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| ・メモリIC |
：SＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、フラッシュ、他 |
| ・ロジックＩＣ |
：マイコン、汎用ロジックＩＣ、他 |
| ・リニアIC |
：オペアンプ、レギュレータ、Ａ／Ｄ・Ｄ／Ａコンバータ、フォトカプラ、他 |
| ・トランジスタ、ダイオード |
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試験装置 |
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・メモリテスタ
・マイコンテスタ
・リニアICテスタ
・トランジスタテスタ |
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LSIテストプログラム開発 |
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| お客様のニーズに合った、LSIテストプログラムを短TATで開発いたします。 |
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■開発実績
・メモリデバイス（フラッシュ、SRAM、SDRAM、DPRAM）
・マイコンデバイス
・汎用ロジックデバイス
・A/D,D/Aコンバータ
弊社のLSIテスターを使用したデバイス試験もサポートいたします。
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ソフトウェア開発 |
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| LSIテスター関連のソフトウェアを開発してまいりました。 |
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■開発実績
・テストプログラム開発支援GUIツール
・テストプログラムのコンパイラ
・テストプログラムのコンバータ
・リアルタイムH/W制御システム
・H/Wの校正／診断プログラム
今後はLSIテスター関連以外の幅広い分野でのソフトウェア開発も 推進してまいります。
お客様に信頼いただけるエンジニア育成のために、情報処理の資格取得を 推進しております。
【保有資格】
・アプリケーションエンジニア
・ソフトウェア開発技術者
・第二種情報処理技術者 |
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