トップページ サイトマップ

半導体デバイスの寿命試験 半導体デバイスの強度試験 半導体デバイスの選別検査・スクリーニング 半導体デバイスの構造解析・故障解析 電気的特性の測定（テスト） 光学的特性の測定 はんだ接合耐久性試験 その他の試験 環境試験（耐候性試験）装置 強度試験装置 テスタ・計測器 解析・分析装置 その他の装置 パワー系半導体デバイスの信頼性試験 鉛フリーはんだの接合耐久性試験 電気・電子機器用部品のウィスカ試験 半導体デバイスの静電破壊試験(ESD) 半導体デバイスのラッチアップ試験 LEDの信頼性試験 はんだボールの再搭載（リボール） グリーン調達関連材料分析   サービス案内 > 評価・解析装置一覧 > 強度試験装置 強度試験装置 強度試験装置 強度試験装置 ●振動試験装置 加振力：4KN（400kgf） 周波数範囲：5〜3,500Hz 最大加速度：800m／S2（80G） 正弦波／ランダム振動 ●衝撃試験装置 加振力：30〜30,000m／S2（3〜3,000G） 半正弦波／鋸歯状波／台形波 ●端子強度試験機（曲げ） 曲げ荷重：0.5〜20N（0.05〜2kgf） ●引張り試験機 引張り荷重：0.1N〜5000N（0.01〜500kgf）

トップページ ｜ サービス案内 ｜ 会社概要 ｜ 会社地図 ｜ お問い合わせ ｜ 試験所認定 ｜ 個人情報保護方針 ｜ サイトマップ