RENESAS
 

信頼性試験
高温保存試験/低温保存試験
耐湿性試験(高温高湿試験)
温度サイクル試験/熱衝撃試験
プレッシャークッカーテスト
温湿度サイクル試験
塩水噴霧試験
振動試験/衝撃試験
静電気破壊試験(ESD試験)
ラッチアップ試験
通電試験
その他試験
特性検査
選別検査・スクリーニング
電気的特性の測定(テスト)
光学的特性の測定
解析・分析
構造解析・故障解析
分析
故障・モード別評価
ウィスカ評価試験
はんだ接合部の実装評価試験
グリーン調達材料評価試験
宇宙用半導体デバイス評価試験
評価用装置・部材
評価用装置作成
評価用部材作成
はんだボール再搭載(リボール)
目的
高温通電試験や断続通電試験等の信頼性試験を実現するための評価用装置を作成します。
方法
実施する信頼性評価条件に合わせて開発・設計から組立まで行います。

    【目的】  信頼性試験を実現するための評価用装置を作成します。
    【対応範囲】  マイコン,メモリ等のICやパワー系半導体など、各種半導体・電子部品

パワーサイクル試験装置
パターン発生器
ラックマウント発信器
16ch定電流源
費用・期間
【ドライバ組み込みパターン発生器を製作する場合】
    試験条件:24ch,MOS-FET駆動,VG=0-20V
    概算費用:50万円〜
    試験工期:30日

    なお、上記費用・工期は参考となりますので、個々のご依頼内容によって変わります。
        *試験装置は信頼性試験ご依頼に伴い製作するもので、装置のみの販売は原則いたしておりません。
    詳細は営業担当者までお問い合わせください。

        ・パッケージ外形
        ・試験条件
        ・試験数量
    これらの情報を事前にいただけますと、より詳細なお見積が可能となります。

試験をご依頼いただける場合は  試験依頼書  に必用事項をご記入いただき、ご捺印の上、営業担当者まで
お申し付けください。