半導体や電子部品の構造や故障原因調査のための材料分析を実施します。

各種分析手法を用いて構成元素を特定します。

    【目的】  受入材料の構成元素の確認、故障解析時の異物の特定などを実施します。
    【試験条件例】  EDXによる元素分析
    【対応範囲】  蛍光X線,EDX,FTIR,その他

蛍光X線分析装置

IC異物分析(Cu検出)

【受入した材料に異物が付着しており、その異物の素材を特定する場合】
    試験条件：EDX分析,数量1個
    概算費用：6万円〜
    試験工期：2日

    なお、上記費用・工期は参考となりますので、個々のご依頼内容によって変わります。
    詳細は営業担当者までお問い合わせください。

        ・パッケージ外形
        ・試験条件
        ・試験数量
    これらの情報を事前にいただけますと、より詳細なお見積が可能となります。

試験をご依頼いただける場合は  試験依頼書  に必用事項をご記入いただき、ご捺印の上、営業担当者まで
お申し付けください。